| No. | 표준번호 | 표준명 | 제/개정일 ▼ |
|---|---|---|---|
| 103 | TTAK.KO-10.0580 | 가속도 여기된 압전 에너지 하베스팅 소자의 특성 평가 방법 | 2012-10-09 |
| 102 | TTAK.KO-09.0047/R2 | [개정] 하드웨어기술언어 코딩 지침 | 2012-10-09 |
| 101 | TTAK.KO-10.0581 | 스크래치 패드 메모리를 이용한 캐시 메모리 인터페이스 | 2012-10-09 |
| 100 | TTAK.KO-10.0582 | 실리콘 광 도파로 특성 평가 방법- 제1부: 격자 결합기 | 2012-10-09 |
| 99 | TTAK.KO-10.0583 | 실리콘 광 도파로 특성 평가 방법 -제2부: 모드 크기 변환기 | 2012-10-09 |
| 98 | TTAK.KO-10.0584 | 벤딩 테스터의 요구 사항 | 2012-10-09 |
| 97 | TTAK.KO-10.0585 | 나노선 열전도도 측정 방법 | 2012-10-09 |
| 96 | TTAK.KO-10.0586 | 모터 홀센서 신호 출력 형식 | 2012-10-09 |
| 95 | TTAK.KO-10.0587 | 영상 SoC의 특징점 저장 형식 | 2012-10-09 |
| 94 | TTAK.KO-10.0588 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제1부: 광 전기적 특성 | 2012-10-09 |
