표준

No 표준번호 표준제목 제개정일 정렬방향
25450 TTAK.KO-10.0583 실리콘 광 도파로 특성 평가 방법 -제2부: 모드 크기 변환기 2012-10-09
25449 TTAK.KO-10.0584 벤딩 테스터의 요구 사항 2012-10-09
25448 TTAK.KO-10.0585 나노선 열전도도 측정 방법 2012-10-09
25447 TTAK.KO-10.0586 모터 홀센서 신호 출력 형식 2012-10-09
25446 TTAK.KO-10.0587 영상 SoC의 특징점 저장 형식 2012-10-09
25445 TTAK.KO-10.0588 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제1부: 광 전기적 특성 2012-10-09
25444 TTAK.KO-10.0589 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제2부: 환경적 특성 2012-10-09
25443 TTAK.KO-10.0590 공진형 무선 전력 전송 시스템 제어 절차 2012-10-09
25442 TTAK.OT-09.0003/R1 반도체 IP 품질 평가 항목 2012-10-09
25441 TTAE.ET-EN 300 392-12-13 v.1.2.1 TETRA 음성과 데이터 제 12부: 부가서비스 Stage 3; 파트 13: 통화중 사용자 호 완료 2012-12-21