TTA °£Ç๰ - ICT Standard Weekly

Ȩ > Ç¥ÁØÈ­ Âü¿© > TTA°£Ç๰ > ICT Standard Weekly

±â¼úÇ¥ÁØÀ̽´

´Ù¿î·Îµå (2006-35È£)
Æ®À§ÅÍ ÆäÀ̽ººÏ ¹ÌÅõµ¥ÀÌ

[¹ÙÀÌ¿ÀÀνÄ] ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ ¼º´ÉÆò°¡ ISO/IEC ±¹Á¦ Ç¥ÁØ Åº»ý

Áö³­ 7¿ù 3ÀϺÎÅÍ 7¿ù 11ÀϱîÁö ±Ù´ë ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ ¸ÞÄ«¶ó ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ¿µ±¹ ·±´ø¿¡¼­ ISO/IEC JTC1 SC37ÀÇ 9Â÷ Working Group ȸÀÇ¿Í 5Â÷ ÃÑȸ°¡ °³ÃֵǾú´Ù. ÃÖ±Ù ±¹Á¦³ëµ¿±â±¸(ILO)¿Í ±¹Á¦¹Î°£Ç×°ø±â±¸(ICAO)°¡ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ¼±¿ø IDÄ«µå¿Í ÀüÀÚ¿©±ÇÀ» µµÀÔÇϵµ·Ï ±Ç°íÇÔ¿¡ µû¶ó ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ Ç¥ÁØÈ­´Â ±Þ¼ÓÈ÷ °¡¼ÓÈ­µÇ¾î ¿ÔÀ¸¸ç, À̹ø ȸÀÇ¿¡¼­ ÃÑ 9°ÇÀÇ ±¹Á¦ Ç¥ÁØÀÌ Åº»ýÇÏ°Ô µÇ¾ú´Ù.

º» °í¿¡¼­´Â Ưº°È÷ SC37ÀÇ ¿©¼¸ ºÐ¾ß °¡¿îµ¥ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ Àνķü, 󸮼ӵµ, »óȣȣȯ¼º µî ´Ù¾çÇÑ ¼º´ÉÀ» Æò°¡ÇÏ°í ±× °á°ú¸¦ º¸°íÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ» Ç¥ÁØÈ­ÇÏ´Â WG5(Biometric Testing and Reporting)ÀÇ À̹ø ȸÀÇ °á°ú¸¦ ¼Ò°³Çϰí, ±× ÀÇÀÇ¿Í Á߿伺 ¹× ÇâÈÄ ÃßÁø ¹æÇâÀ» ³íÀÇÇÏ¿© ¿ì¸®³ª¶óÀÇ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ Ç¥ÁØÈ­ Ȱµ¿ ´ëºñÃ¥À» Á¦¾ÈÇÑ´Ù. ƯÈ÷ Áö³­ 6¿ù Çѱ¹Á¤º¸º¸È£ÁøÈï¿ø »êÇÏ¿¡ ¼³¸³µÈ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä Æò°¡¼¾ÅÍ(Korea National Biometrics Test Center)°¡ ±¹Á¦ Ç¥ÁØ¿¡ µû¸¥ Àνļº´É(Performance). »óȣȣȯ¼º(Interoperability), Ç¥ÁØÀûÇÕ¼º(Conformance) Æò°¡¸¦ Á¦°øÇÒ ¿¹Á¤À̾, °ü·Ã±â¾÷µéÀº ±¹Á¦Ç¥ÁØÀ» ÁØ¿ëÇÏ´Â Á¦Ç° °³¹ß¿¡ ´õ¿í ³ë·ÂÇØ¾ß ÇÒ °ÍÀÌ´Ù.

 

WG5 (Biometric Testing and Reporting) Ç¥ÁØÈ­ ÁøÇà ÇöȲ

WG5(Working Group 5)ÀÇ ÁÖÁ¦´Â Biometric Testing and ReportingÀ¸·Î¼­ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ ¼º´ÉÀ» ¿©·¯ °¡Áö °üÁ¡¿¡¼­ Æò°¡ÇÏ°í ±× °á°ú¸¦ Á¦½ÃÇÏ´Â ±â¼úÀû ¹æ¹ýÀ» Ç¥ÁØÈ­ÇÏ´Â °ÍÀ» ¸ñÀûÀ¸·Î ÇÑ´Ù. ´Ù¸¸, ±× Æò°¡ÀÇ ¹üÀ§´Â ÀûÇÕ¼ºÀ» Á¦¿ÜÇϰí Àνļº´É°ú »óȣȣȯ¼º¸¸À» Æ÷ÇÔÇÑ´Ù. À̹ø ·±´ø ȸÀÇ °á°ú, 1°ÇÀÇ ±¹Á¦Ç¥ÁØ(IS)ÀÌ Åº»ýÇϰí, 1°ÇÀÇ FDIS°¡ °áÁ¤µÇ¾úÀ¸¸ç, 4°ÇÀÇ °úÁ¦°¡ ÁøÇà ÁßÀ̰í, 1°ÇÀÇ »õ·Î¿î °úÁ¦°¡ Á¦¾ÈµÇ¾ú´Ù. ÁøÇà ÁßÀÎ °¢ °úÁ¦¿¡ ´ëÇÑ ºÎÁ¦ ¹× ±×µéÀÇ ÁøÇà »óȲÀº <Ç¥ 1>°ú °°´Ù. º» Àý¿¡¼­´Â °¢ ¾È°ÇµéÀÇ ÁÖ¿ä ÀïÁ¡ »çÇ×µé°ú Àǹ̸¦ °£·«È÷ ¼Ò°³ÇÑ´Ù.

 

<Ç¥ 1> WG5 Ç¥ÁØÈ­ ¹®¼­ ÇöȲ

*FDIS (Final Draft International Standard); ÃÖÁ¾ ±¹Á¦Ç¥ÁؾÈ

 IS (International Standard); ±¹Á¦Ç¥ÁØ

 FCD (Final Committee Draft): ÃÖÁ¾ À§¿øÈ¸Ç¥ÁؾÈ

 WD (Working Draft); ÀÛ¾÷ ÃʾÈ

 PDTR (Proposed Draft Technical Report); ±â¼úº¸°í¼­ ÃʾÈ

 Call for Contribution : ±â°í¼­ Á¦Ãâ ¿äû

 

IS 19795-1 Principles and Framework: ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ Àνļº´É Æò°¡ ¹× °á°ú Á¦½Ã ¹æ¹ýÀ» Ç¥ÁØÈ­Çϱâ À§ÇÑ ±âº» ±¸Á¶, ¿ø¸®, °ü·Ã ¿ë¾î µîÀ» Á¤ÀÇÇϰí ÀÖ´Ù. º» Ç¥ÁؾÈÀº ¿µ±¹ÀÇ NPL(National Physical Laboratory)ÀÌ 2000³â 2¿ù¿¡ óÀ½ Á¦½ÃÇÏ¿´°í, Áö³­ ÀϺ» ±³Åä ȸÀÇ ÀÌÈÄ¿¡ ±¹Á¦Ç¥ÁØÀ¸·Î »óÁ¤µÇ¾úÀ¸¸ç, ÃÖÁ¾ ÅõÇ¥¸¦ °ÅÃÄ WG5ÀÇ Ã¹ ±¹Á¦Ç¥ÁØÀÌ µÇ¾ú´Ù. º» Ç¥ÁØÀº ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ½Ã½ºÅÛÀÇ ±¸Ã¼ÀûÀÎ ±¸¼º°ú µ¿ÀÛ¿ø¸®, Æò°¡Ç׸ñ, Æò°¡¹æ¹ý, ±×¸®°í Æò°¡°á°úÀÇ Á¦½Ã ¹æ¹ýµéÀ» Ç¥ÁØÈ­Çϰí ÀÖ¾î, ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ Á¤È®ÇÏ°í °´°üÀûÀÎ ¼º´ÉÆò°¡¸¦ À§ÇÏ¿© ½Å¼³µÈ K-NBTC»Ó¸¸ ¾Æ´Ï¶ó, ±â¼úÀ» ¿¬±¸ÇÏ´Â ´ëÇÐ, ¿¬±¸¼Ò ¹× »ó¿ëÁ¦Ç°À» °³¹ßÇÏ´Â ±â¾÷¿¡¼­µµ ½Éµµ ÀÖ°Ô ¿¬±¸µÉ Çʿ䰡 ÀÖ´Ù. 

 

FDIS 19795-2 Testing Methodologies for Technology and Scenario Evaluation: ÆÄÆ®1¿¡¼­ Á¤ÀÇÇÏ´Â ¼¼°¡Áö Æò°¡ À¯Çü, Technology, Scenario, Operational ¹æ¹ý °¡¿îµ¥¼­ ¿ÀÇÁ¶óÀÎ Æò°¡ ¹æ¹ýÀÎ Technology Æò°¡¿Í, ¸ðÀÇ ±¸ÃàµÈ »ç¿ëÀÚ¿Í »ç¿ëȯ°æÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© ¿Â¶óÀÎ Æò°¡ÇÏ´Â Scenario Æò°¡ ¹æ¹ý¿¡ ´ëÇÏ¿© DB ±¸Ãà ¹æ¹ý, Æò°¡ Ç׸ñ ¹× °á°ú Á¦½Ã ¹æ¹ý µîÀ» Ç¥ÁØÈ­ Çϰí ÀÖ´Ù. À̹ø ȸÀÇ¿¡¼­´Â FDIS·Î »óÁ¤µÊ¿¡ µû¶ó ±â¼úÀûÀÎ ³»¿ëµéÀÇ ¿Ï¼ºµµ°¡ ÀÎÁ¤µÇ¾úÀ¸¸ç, ³»³â 7¿ù µ¶ÀÏ ÃÑȸ¿¡¼­ ±¹Á¦Ç¥ÁØÀ¸·Î Á¦Á¤µÉ ¿¹Á¤ÀÌ´Ù. º» Ç¥Áؾȵµ ÆÄÆ®1°ú ¸¶Âù°¡Áö·Î K-NBTC ¹× ±â¾÷, ´ëÇÐ, ¿¬±¸¼Ò µî¿¡¼­ ¹Ýµå½Ã ¿¬±¸µÇ¾î¾ß ÇÒ ±â¼ú °¡¿îµ¥ ÇϳªÀÌ´Ù.

 

PDTR 19795-3 Modality-Specific Testing: º» Ç¥ÁؾÈÀº ¾Õ¼­ ¾ð±ÞµÈ ÆÄÆ®1, ÆÄÆ®2 Ç¥ÁØ¿¡¼­ ¹ÙÀÌ¿ÀÀνÄÀÇ ¸ð´Þ¸®Æ¼(Áö¹®, ¾ó±¼, ȫä µî)¿¡ µû¶ó Æò°¡¹æ¹ý »ó¿¡ º°µµ·Î °í·ÁµÇ¾î¾ß ÇÒ ¿ä¼ÒµéÀ» °­Á¶ÇÏ°í ´Ù¾çÇÑ ¿¹½ÃµéÀ» Á¦°øÇϰí ÀÖ´Ù. Ưº°È÷, °¢ ¸ð´Þ¸®Æ¼ º°·Î ¼º´É¿¡ ¿µÇâÀ» ¹ÌÄ¡´Â ´Ù¾çÇÑ È¯°æÀû, ¿î¿µÀû, »ç¿ëÀÚÀû ¿ä¼ÒµéÀÌ Á¤ÀǵǾî ÀÖ¾î ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ ¼º´ÉÆò°¡ °á°ú¿¡ ´ëÇÑ ºÐ¼®¿¡ Ȱ¿ëµÉ ¼ö ÀÖ´Ù.

 

CD 19795-4 Interoperability Performance Testing: º» Ç¥ÁؾÈÀº Ç¥ÁØ µ¥ÀÌÅÍÆ÷¸ËÀ̳ª ÀÎÅÍÆäÀ̽º¸¦ ÁØ¿ëÇÏ´Â ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ½Ã½ºÅÛµé »çÀÌÀÇ »óȣȣȯ¼º(Interoperability) ¹× ¼º´ÉÀ» Æò°¡ÇÏ´Â ¹æ¹ý°ú °ü·Ã ±â¼ú¿¡ °üÇÑ °ÍÀÌ´Ù. ÀÌ ¾ÈÀº ¹Ì±¹ÀÇ °úÇбâ¼úÇ¥Áر¹(NIST)°¡ ÁÖ°üÇϰí ÀÖÀ¸¸ç, Áö³­ 2³â°£ ILO¿¡¼­ ½Ç½ÃÇÑ Áö¹®ÀÎ½Ä »óȣȣȯ¼º Æò°¡»ç¾÷ÀÌ ¿µÇâÀ» ¹ÌÄ¡°í ÀÖ´Ù. º» Ç¥ÁؾÈÀº WG3¿¡¼­ Á¦Á¤ÇÑ Ç¥ÁØ µ¥ÀÌÅÍ Æ÷¸ËÀÌ Àνļº´É¿¡ ¹ÌÄ¡´Â ¿µÇâÀ» ºÐ¼®ÇÒ »Ó¸¸ ¾Æ´Ï¶ó Ç¥ÁØÀ» ÁØ¿ëÇÏ´Â µ¿ÀÏ ¸ð´Þ¸®Æ¼ÀÇ ¿©·¯ Á¦Ç°µéÀÇ È£È¯¼ºÀ» Æò°¡ÇÏ´Â ¹æ¹ý°ú ±âÁØÀ» ¸¶·ÃÇϰí ÀÖ´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ Ç¥ÁØÀº Ưº°È÷ 10¿© Á¾ ÀÌ»óÀÇ ´Ù¾çÇÑ ÀԷ¼¾¼­°¡ Á¸ÀçÇÏ´Â Áö¹®ÀÎ½Ä ±â¼ú¿¡ À־ »óȣȣȯ¼ºÀ» Æò°¡Çϴµ¥ ÇʼöÀûÀÎ ±âÁØÀ» Á¦°øÇÒ °ÍÀÌ´Ù. ±× ¿Ü ´Ù¸¥ ¸ð´Þ¸®Æ¼ÀÇ »ýüÀÎ½Ä ±â¼ú¿¡¼­µµ ´Ù¾çÇÑ ÀԷ¼¾¼­µé°ú ÀÎ½Ä ¾Ë°í¸®ÁòµéÀÌ Á¸ÀçÇϱ⠶§¹®¿¡ ÇâÈÄ ¼º´É Æò°¡´Â º» Ç¥ÁؾÈÀ» µû¸¦ °¡´É¼ºÀÌ ³ô´Ù. ³»³âµµ 1¿ù¿¡ ÀÖÀ» WG ȸÀÇ¿¡¼­ FCD·Î »óÁ¤µÉ °ÍÀ¸·Î ¿¹»óµÈ´Ù.

 

WD 19795-5 Performance of Biometric Access Control Systems: º» Ç¥ÁؾÈÀº ¹Ì±¹ÀÇ TSA(Transportation Security Agency)¿¡¼­ Á¦¾ÈÇÏ¿´À¸¸ç, ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÇ ÇÙ½É Àû¿ëºÐ¾ßÀÎ Access Control¿¡ À־ Technology, Scenario, Operational Å×½ºÆ® ¹æ¹ý¿¡ °üÇÑ ¿ë¾î, ÀýÂ÷, Æò°¡Ç׸ñ ¹× °á°úÁ¦½Ã¿¡ °üÇÑ Ç¥ÁØÀ» ´Ù·ç°í ÀÖ´Ù. Ưº°È÷ À̹ø ȸÀÇ¿¡¼­´Â Á¦Ç°ÀÇ ¼º´É¿¡ µû¶ó µî±ÞÈ­ÇÏ´Â ±âÁØ¿¡ ÀÖ¾î ±¹°¡º° ÀÇ°ß Â÷À̰¡ ¸¹¾Ò±â ¶§¹®¿¡ Ưº° Rapporteur groupÀ» Çü¼ºÇÏ¿© ´ÙÀ½ ȸÀÇ Àü±îÁö À̸ÞÀÏÀ» ÅëÇÑ ³íÀǸ¦ °®±â·Î °áÁ¤ÇÏ¿´´Ù. ÀÌ Ç¥ÁؾÈÀº Access Control À̶ó´Â ÀÀ¿ëºÐ¾ßÀÇ »ó¿ëÀû Á߿伺À» °í·ÁÇÒ ¶§ ±¹³» °ü·Ã ±â¾÷µéÀÇ °ü½É°ú ´ëÃ¥ÀÌ ¿ä±¸µÈ´Ù.

 

NWI 19795-6 Testing Methodologies for Operational Evaluation: À§ÀÇ ÆÄÆ®2°¡ Technology Å×½ºÆ®¿Í Scenario Å×½ºÆ®¸¦ ´Ù·ç´Â ¹Ý¸é, º» Ç¥ÁؾÈÀº ½ÇÁ¦ ¿î¿ëȯ°æ¿¡¼­ ½Ç »ç¿ëÀÚµéÀÌ Âü¿©ÇÏ´Â Operational Å×½ºÆ®ÀÇ Æò°¡ ¹æ¹ýÀ» Ç¥ÁØÈ­ÇÏ´Â °ÍÀ» ¸ñÀûÀ¸·Î Çϸç, ¾ÖÃÊ¿¡ ¹Ì±¹¿¡¼­ Á¦¾ÈÀ» Çϰí À̹ø ȸÀÇ¿¡ ±â°í¹®À» Á¦ÃâÇÏ¿´Áö¸¸, ¿¡µðÅÍ´Â ¿µ±¹ NPLÀÇ Mansfield ¹Ú»ç°¡ ¼±ÀӵǾú´Ù. ÀÌ »õ·Î¿î Ç¥Áؾȿ¡ ´ëÇØ¼­ K-NBTC¸¦ Áß½ÉÀ¸·Î Çѱ¹ÀÇ ±â¿©°¡ Àֱ⸦ ±â´ëÇÑ´Ù.

 

 SD Biometric Equipment Performance: º» °úÁ¦´Â SD(Standing Document)·Î¼­ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ½Ã½ºÅÛ °¡¿îµ¥¼­ ¿µ»ó ¹× ½ÅÈ£¸¦ ȹµæÇÏ´Â ¼¾¼­µéÀÇ ¼º´ÉÀ̳ª Ư¼ºÀ» Æò°¡Çϱâ À§ÇÑ Ç¥ÁØ ¹æ¹ýÀ» Á¦½ÃÇÏ´Â °ÍÀ» ¸ñÀûÀ¸·Î ÇÑ´Ù. ÇöÀç±îÁö´Â Áö¹®ÀÎ½Ä ¼¾¼­µé¿¡ ´ëÇÑ Æò°¡ ¹æ¹ý¸¸À» Á¦¾ÈÇϰí ÀÖÀ¸³ª, ÇâÈÄ ´Ù¸¥ ¸ð´Þ¸®Æ¼ÀÇ ¼¾¼­µé¿¡ ´ëÇÑ Æò°¡ ±â¼úµéµµ ´Ù·ê ¿¹Á¤ÀÌ´Ù. º» °úÁ¦¸¦ À§ÇÏ¿© Rapporteur groupÀÌ ±¸¼ºµÇ¾î ÀÖ°í, ¹Ì±¹, ÀϺ»ÀÇ Àü¹®°¡µé°ú ÇÔ²² Çѱ¹ (ÀÎÇÏ´ë ±èÇÐÀÏ ±³¼ö)µµ Âü¿©Çϰí ÀÖ´Ù.

 

±â¼ú Àü¸Á ¹× ´ëÃ¥

À̹ø ¿µ±¹ ·±´ø ȸÀǸ¦ ÅëÇÏ¿© BioAPI, CBEFF, Áö¹® ¹× ¾ó±¼ ¿µ»ó Æ÷¸Ë, ÀϺΠƯ¡ ÆÄÀÏ Æ÷¸Ë µî°ú ´õºÒ¾î, ¼º´ÉÆò°¡ ºÐ¾ß¿¡¼­´Â ¡°19795-1 ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ¼º´ÉÆò°¡ ¹× º¸°í: ±âº» ¿ø¸® ¹× ÇÁ·¹ÀÓ¿öÅ©¡±°¡ ±¹Á¦Ç¥ÁØÀ¸·Î Á¦Á¤µÇ¾ú´Ù. °á±¹ ¹Ì±¹ÀÌ ÀǵµÇß´ø ´ë·Î ISO/IEC JTC1 SC37ÀÌ ¼³¸³µÈ Áö ¸¸ 4³âÀÌ Ã¤ ¸øµÇ¾î ±¹Á¦ Ç¥ÁØÀÌ Á¦Á¤µÇ¾úÀ¸¸ç, ±× µ¿¾È ¿©À¯·Ó°Ô °ü¸ÁÇÏ´ø ±¹³» °ü·Ã ±â¾÷µéÀº °íÀ¯ ±â¼úÀÇ ¼º´É»Ó¸¸ ¾Æ´Ï¶ó, Ç¥ÁØ¿¡ ´ëÇÑ ÀûÇÕ¼º, ±×¸®°í Ç¥ÁØÀ» ÁØ¿ëÇϴ Ÿ»ç Á¦Ç°µé°úÀÇ È£È¯¼ºÀ» µ¿½Ã¿¡ ¸¸Á·½ÃÄÑ¾ß ÇÏ´Â »óȲ¿¡ óÇÏ°Ô µÇ¾ú´Ù.

¼º´ÉÆò°¡ ºÐ¾ß¿¡¼­´Â ´Ù¾çÇÑ ¼º´ÉÆò°¡ ¹æ¹ýµé°ú ƯÁ¤ ÀÀ¿ëºÐ¾ßÀÇ Á¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ ¼º´ÉÆò°¡ ¹æ¹ýµéµµ Ç¥ÁØÈ­ Çϰí ÀÖ°í ÀÌ¹Ì Àü¼¼°èÀûÀ¸·Î ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼úÀÌ Àû¿ëµÈ ÀüÀÚ¿©±Ç µµÀÔÀÌ ±âÁ¤ »ç½ÇÈ­µÊ¿¡ µû¶ó Á¤ºÎÂ÷¿ø¿¡¼­ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ±â¼ú ¹× »ó¿ëÁ¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ ´Ù¾çÇÑ Æò°¡ ±â´ÉÀÌ ¿ä±¸µÇ±â ¶§¹®¿¡, Áö³­ 6¿ù¿¡ ¼³¸³µÈ K-NBTCÀÇ ¼³¸³Àº ¸Å¿ì ½Ã±â ÀûÀýÇÏ´Ù°í ¸»ÇÒ ¼ö ÀÖ°í, ¼º´ÉÆò°¡¿¡ ´ëÇÑ ±â¼ú ¹× °æÇè ÃàÀûÀ» À§ÇÏ¿© ¸¹Àº ³ë·ÂÀ» ±â¿ï¿©¾ß ÇÒ °ÍÀÌ´Ù.

ÇöÀç IS³ª FDIS, FCD »óÅÂÀΠǥÁØ¿¡ ´ëÇØ¼­´Â ¿ì¸®°¡ ±â¿©ÇÏ±â ¾î·ÆÁö¸¸, Operational Æò°¡, ´Ù¾çÇÑ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ¼¾¼­ÀÇ Æ¯¼º Æò°¡, ±×¸®°í ƯÁ¤ ¹ÙÀÌ¿ÀÀÎ½Ä ÀÀ¿ë±â¼ú¿¡ À־ÀÇ Æò°¡ ¹æ¹ý¿¡ ´ëÇØ¼­´Â ¾ÆÁ÷µµ ¸¹Àº ¿¬±¸ÀÇ ¿©Áö°¡ ÀÖÀ¸¸ç, ¿ì¸®³ª¶óµµ ÃæºÐÈ÷ ±¹Á¦Ç¥ÁØ Á¦Á¤À» À§ÇÏ¿© ±â¿©ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â °úÁ¦µéÀÌ´Ù. ¾ÕÀ¸·Î K-NBTC¸¦ Áß½ÉÀ¸·Î ´ëÇÐ ¹× ¿¬±¸¼ÒÀÇ Àü¹®°¡µé»Ó¸¸ ¾Æ´Ï¶ó °ü·Ã ±â¾÷µéµµ ¿ì¸®³ª¶ó ±â¼úÀÇ ±¹Á¦Ç¥ÁØÈ­¸¦ À§ÇÏ¿© ´õ¿í ¸¹Àº ³ë·ÂÀ» ±â¿ïÀÌ±æ ±â´ëÇÑ´Ù.

±èÇÐÀÏ (ÀÎÇÏ´ëÇб³ Á¤º¸Åë½Å°øÇкΠ±³¼ö, hikim@inha.ac.kr)

* º» ±ÛÀº ÀúÀÚÀÇ ÀǰßÀÏ »Ó TTA ±â°üÀÇ ÀÔÀå°ú´Â ¹«°üÇÕ´Ï´Ù.