Ȩ > ÀڷḶ´ç > ÀÚ·á°Ë»ö > Ç¥ÁØ
ÀÚ·á °Ë»ö°á°ú
| Ç¥ÁØÁ¾·ù | Á¤º¸Åë½Å´ÜüǥÁØ(TTAS) | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Ç¥ÁعøÈ£ | TTAK.KO-10.0559 | ±¸ Ç¥ÁعøÈ£ | |||||||||||||||
| Á¦°³Á¤ÀÏ | 2012-06-12 | ÃÑ ÆäÀÌÁö | 15 | ||||||||||||||
| ÇÑ±Û Ç¥Áظí | Ĩ ¼öÁØ EMC ÃøÁ¤À» À§ÇÑ ±ÙÀå ½ºÄ³³Ê¿ë ÇÁ·Îºê¿Í FBGA ±¸Á¶ | ||||||||||||||||
| ¿µ¹® Ç¥Áظí | The Distance between FBGA and Near Field Scanning Probe for Measuring Chip-Level EMC | ||||||||||||||||
| ÇÑ±Û ³»¿ë¿ä¾à | ÁÖ¿ä ³»¿ëÀ¸·Î´Â Ĩ ¼öÁØ EMC ÃøÁ¤ ½Ã ±ÙÀå ÇÁ·Îºê¿Í FBGA »çÀÌÀÇ °Å¸® »ç¾çÀ» ±ÔÁ¤Çϰí ÀÖ´Ù. | ||||||||||||||||
| ¿µ¹® ³»¿ë¿ä¾à | The main content of this standard is to define the distance between FBGA and Near Field probe when measuring EMC for chip level. | ||||||||||||||||
| °ü·Ã IPR È®¾à¼ | Á¢¼öµÈ IPR È®¾à¼ ¾øÀ½ | ||||||||||||||||
| °ü·ÃÆÄÀÏ |
|
||||||||||||||||
| Ç¥ÁØÀÌ·Â |
|
||||||||||||||||
| Ç¥ÁØÀ¯Áöº¸¼öÀÌ·Â |
|
||||||||||||||||

