| 표준종류 |
정보통신단체표준(TTAS) |
| 표준번호 |
TTAK.KO-10.0614
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구 표준번호 |
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| 제개정일 |
2012-12-21 |
총 페이지 |
15 |
| 한글 표준명 |
칩 수준 EMC 측정을 위한 근장프로브 보정방법 |
| 영문 표준명 |
Calibration Method of Near Field Probe for Measuring Chip Level EMC |
| 한글 내용요약 |
본 표준은 칩 수준 EMC 측정을 위한 근접장 프로브를 보정(calibration)하기 위해 사용되는 테스트 장치에 대하여 그 모양을 원형으로 사용하는 방법에 대한 것이다. |
| 영문 내용요약 |
The method of calibrating near field probe using test fixture is defined to the scope of circle.
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| 관련 IPR 확약서 |
접수된 IPR 확약서 없음
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| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.0614.pdf
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| 표준이력 |
| 표준명 |
표준번호 |
제개정일 |
구분 |
유효
여부 |
IPR
확약서 |
파일 |
| 칩 수준 EMC 측정을 위한 근장프로브 보정방법 |
TTAK.KO-10.0614
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2012-12-21 |
제정
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유효
|
없음
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| 표준유지보수이력 |
| 검토일자 |
검토결과 |
검토내용 |
| 2016-06-08 |
유지 |
- |
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