| 표준종류 |
정보통신기술보고서(TTAR) |
| 표준번호 |
TTAR-10.0083
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구 표준번호 |
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| 제개정일 |
2017-11-03 |
총 페이지 |
19 |
| 한글 표준명 |
반도체 고장 감내 기능을 위한 정량 분석(기술보고서) |
| 영문 표준명 |
Quantitative Analysis for Fault Tolerance Functions of Semiconductor (Technical Report) |
| 한글 내용요약 |
이 기술보고서는 반도체 기능 안전 기술을 적용하고 입증함에 있어 필요한 정량분석 및 기술에 대한 예제를 제공한다. 정성 분석은 반도체를 적용하고자 하는 시스템의 안전 요구사항을 정의하고 이를 기반으로 반도체의 기술적인 안전 요구사항을 정의 후에 도출된 정량 분석에 따른 기능 안전 성능을 입증하고 개선하는 방법으로 본 기술보고서는 이에 대한 예제를 제시한다. |
| 영문 내용요약 |
The technical report presents the example for describing and analyzing a quantitative test to be needed to design the fault tolerant feature in the semiconductor and to prove the performance of the fault tolerance in the semiconductor. the procedure of analyzing the quantitative test in the semiconductor is composed of making the safety requirement to be satisfied with the function of the target system, defining the technical safety requirement of the semiconductor for the required function to operate with the safety requirement of the target system, producing the safety plan for the semiconductor to be satisfied with the technical safety requirement, analyzing a quantitative test of the safety plan. In the technical report, the example of the procedure is presented.
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| 관련 IPR 확약서 |
접수된 IPR 확약서 없음
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| 관련파일 |
 TTAR-10.0083.pdf
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| 표준이력 |
| 표준명 |
표준번호 |
제개정일 |
구분 |
유효
여부 |
IPR
확약서 |
파일 |
| 반도체 고장 감내 기능을 위한 정량 분석(기술보고서) |
TTAR-10.0083
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2017-11-03 |
제정
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유효
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없음
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