| 표준종류 |
정보통신단체표준(TTAS) |
| 표준번호 |
TTAK.KO-10.0442
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구 표준번호 |
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| 제개정일 |
2010-12-23 |
총 페이지 |
0 |
| 한글 표준명 |
초고주파 대역에서 유전막의 복소유전율 측정: Part 2 |
| 영문 표준명 |
Measurement of the complex dielectric constant of the dielectric film in the microwave frequency region: Part 2 |
| 한글 내용요약 |
주요 내용은 개요, 키워드, 수 GHz에서 수 십 GHz에 이르는 초고주파 대역에서 유전막의 유전율 측정 방법 등이다. |
| 영문 내용요약 |
This standard prescribes Key word, precise measuring dielectric constant of dielectric thin film in the microwave region and so on.
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| 관련 IPR 확약서 |
접수된 IPR 확약서 없음
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| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.0442.zip
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| 표준이력 |
| 표준명 |
표준번호 |
제개정일 |
구분 |
유효
여부 |
IPR
확약서 |
파일 |
| 초고주파 대역에서 유전막의 복소유전율 측정: Part 2 |
TTAK.KO-10.0442
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2010-12-23 |
제정
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유효
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없음
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| 표준유지보수이력 |
| 검토일자 |
검토결과 |
검토내용 |
| 2019-05-31 |
유지 |
추가 개정 및 변경 요구사항이 없으므로 유지함 |
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