| 표준종류 |
정보통신단체표준(TTAS) |
| 표준번호 |
TTAK.KO-10.0566
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구 표준번호 |
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| 제개정일 |
2012-06-12 |
총 페이지 |
16 |
| 한글 표준명 |
칩 수준 EMC 측정을 위한 근장 프로브용 테스트 픽스처 구조 |
| 영문 표준명 |
Test Fixture Structure of Near Field Probe for Measuring Chip-Level EMC |
| 한글 내용요약 |
주요 내용으로는 근장 스캐닝(Scanning) 프로브를 보정(Calibration)하기 위해 사용하는 원형 테스트 픽스처(Test Fixture)에 대한 사양을 규정하고 있다. |
| 영문 내용요약 |
The main content of this standard is to define the specifications of circular test fixture which is used for Near Field Scanning Probe calibration.
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| 관련 IPR 확약서 |
접수된 IPR 확약서 없음
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| 관련파일 |
 TTAK_KO-10_0566.pdf
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| 표준이력 |
| 표준명 |
표준번호 |
제개정일 |
구분 |
유효
여부 |
IPR
확약서 |
파일 |
| 칩 수준 EMC 측정을 위한 근장 프로브용 테스트 픽스처 구조 |
TTAK.KO-10.0566
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2012-06-12 |
제정
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유효
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없음
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| 표준유지보수이력 |
| 검토일자 |
검토결과 |
검토내용 |
| 2016-06-08 |
유지 |
- |
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