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자료 검색결과
| No. | 표준번호 | 표준제목 |
제개정일
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|---|---|---|---|
| 25450 | TTAK.KO-10.0583 | 실리콘 광 도파로 특성 평가 방법 -제2부: 모드 크기 변환기 | 2012-10-09 |
| 25449 | TTAK.KO-10.0584 | 벤딩 테스터의 요구 사항 | 2012-10-09 |
| 25448 | TTAK.KO-10.0585 | 나노선 열전도도 측정 방법 | 2012-10-09 |
| 25447 | TTAK.KO-10.0586 | 모터 홀센서 신호 출력 형식 | 2012-10-09 |
| 25446 | TTAK.KO-10.0587 | 영상 SoC의 특징점 저장 형식 | 2012-10-09 |
| 25445 | TTAK.KO-10.0588 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제1부: 광 전기적 특성 | 2012-10-09 |
| 25444 | TTAK.KO-10.0589 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제2부: 환경적 특성 | 2012-10-09 |
| 25443 | TTAK.KO-10.0590 | 공진형 무선 전력 전송 시스템 제어 절차 | 2012-10-09 |
| 25442 | TTAK.OT-09.0003/R1 | 반도체 IP 품질 평가 항목 | 2012-10-09 |
| 25441 | TTAE.ET-EN 300 392-12-13 v.1.2.1 | TETRA 음성과 데이터 제 12부: 부가서비스 Stage 3; 파트 13: 통화중 사용자 호 완료 | 2012-12-21 |
