표준화 참여안내

TTA의 표준현황

> 표준화 개요 > TTA의 표준현황

표준번호 TTAK.KO-10.0803 구표준번호
제개정일 2015-10-13 총페이지 21
한글표준명 반도체 소자의 1/f 잡음 평가 방법
영문표준명 Evaluation Method of 1/f Noise of Semiconductor Devices
한글내용요약 본 표준은 정보 통신용 반도체 회로나 IoT(Internet of Things) 등에 사용되는 다양한 반도체 소자(semiconductor device)나 센서의 1/f 잡음을 정확히 평가하기 위한 방법을 규정한다. 1/f 잡음은 반도체 소자 및 센서의 아날로그 성능에 영향을 미치는 매우 중요한 파라미터이므로 1/f 잡음을 정확히 평가하는 것이 필요하며, 본 표준에서는 이러한 1/f 잡음을 평가하는 방법에 대하여 규정한다.
영문내용요약 This standard specifies the measurement method for 1/f noise of various semiconductor devices and sensors that are used much to semiconductor circuits for telecommunications or IoTs(Internet of Things), etc. It is highly necessary to evaluate 1/f noise because 1/f noise is one of the key parameters, which influence in analog performance of semiconductor devices and sensors. This standard specifies the evaluation method for 1/f noise.
국제표준
관련파일 TTAK.KO-10.0803.pdf TTAK.KO-10.0803.pdf            

이전
기업 스마트워크에서 REST 기반의 통합 커뮤니케이션을 위한 서비스
다음
HTML5기반 영상회의 시스템 간 상호연동