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TTA의 표준현황

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표준번호 TTAK.KO-10.0588 구표준번호
재개정일 2012-10-09 00:00:00.0 총페이지 19
한글표준명 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제1부: 광 전기적 특성
영문표준명 Test Methods for the Stability of Oxide Semiconductor Thin Film Transistor - Part 1: Photo-Electrical Characteristics
한글내용요약 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 광 전기적 신뢰성을 평가하기 위한 항목에 대하여 정의하고 있으며 각 항목이 지닌 의미에 대하여 설명한다. 또한, 각 항목을 실제로 측정하는 도구 및 방법에 대하여 정의한다.
영문내용요약 This standard defines the evaluation items for evaluation for the stability of oxide semiconductor TFT under photo-electrical stress and explains the meaning of each item. Also, this standard defines the actual apparatus and methods for the each item.
국제표준
관련파일 TTAK_KO-10_0588.pdf TTAK_KO-10_0588.pdf            

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