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| 표준번호 | TTAS.OT-03.0011 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2004-12-23 | 총페이지 | 88 |
| 한글표준명 | 발광 다이오드 칩/모듈의 특성 및 신뢰성 시험절차 | ||
| 영문표준명 | Characteristics & Reliability Test Procedure for Light Emitting Diode Chip/Module | ||
| 한글내용요약 | 발광 다이오드는 빛을 발하는 반도체 소자로서 광통신 분야에 필요한 핵심 부품으로, 모듈 및 시스템에 요구되는 특성 뿐만 아니라 신뢰성이 보장되어야 한다. 이에 본 문서는 국제 표준서를 바탕으로 국내 발광 다이오드 칩/모듈의 특성 및 신뢰성 시험에 적합하도록 개발되었다. | ||
| 영문내용요약 | In optical communications a light emitting diode is a key component that emits the light. It needs a good performance and reliability for the module and system applications. This standard based on international standards covers the performance and reliability test for a light emitting diode. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAS.OT-03.0011.zip
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