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| 표준번호 | TTAK.KO-10.1513 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2024-12-06 | 총페이지 | 12 |
| 한글표준명 | 신축 전자소자의 인장시 신축-비신축 면적 비율 측정 방법 | ||
| 영문표준명 | Measurement Method for Stretchable and Non-stretchable Area Ratio in Tensile Testing of Stretchable Electronic Devices | ||
| 한글내용요약 | 본 표준에서는 신축 소자 내부에 발생하는 불균일한 변형 및 응력 분포를 측정하기 위하여 신축 또는 인장 시 발생하는 국소 변형률 분포를 비접촉 광학적 방식으로 측정하는 범용적인 방법과 절차를 제시한다. 구체적으로는 신축 가능한 전자 소자의 시편의 표준적인 준비 방법을 제시하고, 이를 활용한 신축 시 디바이스에 국소적으로 발생하는 변형률 분포를 광학적으로 측정하고 통계적으로 분석하는 방법을 포함한다. | ||
| 영문내용요약 | This standard presents a general method and procedure for optically measuring the distribution of local strain generated during expansion or tension to measure the uneven deformation and stress distribution inside the elastic device. Specifically, it presents a standard preparation method for specimens of stretchable electronic devices, and optically measures and statistically analyzes the distribution of strain locally occurring in the device during construction using it. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.1513.pdf
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