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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0520 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2011-12-21 | 총페이지 | 22 |
| 한글표준명 | 반도체 전자소자의 온웨이퍼 온도특성 측정 지침 | ||
| 영문표준명 | Guideline of On-wafer Measurement for Temperature Characteristics of Semiconductor Electronic Devices | ||
| 한글내용요약 | 본 표준은 반도체 전자소자 및 이를 이용한 집적회로의 온도 특성을 비교하는 측정 조
건을 표준화하여 상호 비교를 통한 부품 선택에 도움을 주는 것이다. 반도체 전자소자는 동작을 위해 전원이 인가됨에 따라 열 효과 (Thermal Effect)로 인한 소자 특성의 변화 가 나타난다. 따라서, 소자의 온도 특성에 대한 정확한 분석 및 모델링이 필요하며 이를 위하여 소자의 온도 특성을 평가하기 위한 측정을 하게 된다. 소자의 온도 특성을 결정 하는 소자 특성 값은 정 방향 전압이 걸리는 소자의 접합 혹은 채널의 온도이며 이 특 성 값은 소자의 열적 저항 (Thermal Resistance)과 외부 온도와 소자에 인가되는 전력 값과 관계 된다. 지금까지 반도체 전자소자의 온도 특성을 평가하기 위하여 많은 연구가 진행되었으나 각 연구자 및 산업체에서 사용하는 계측기의 성능과 측정 환경의 차이로 인하여 외부온도, 온도 상승 시간, 온도 유지 시간, 온도 하강 시간 등이 천차만별이며 측정 조건이 특별히 정해져 있지 않기 때문에 측정 조건이 다르고 이로 인한 소자 및 집적회로의 특성을 상호 비교할 경우 정확한 판단을 하기 어려운 게 현실이다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 반도체 전자소자의 온웨이퍼 (on- wafer) 온도 특성을 사용자가 상호 비교하고 선택할 수 있도록 하기 위하여 본 표준을 통해서 측정 방법의 가이드 라 인을 제공하고자 한다. |
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| 영문내용요약 | One purpose of this standard is to standardize temperature- dependent data in
datasheets of products and measurement methods to compare temperature characteristics of electronic semiconductor devices. Eventually this standard is to select the right wanted product from measured data by the same measurement conditions. When a bias supplied to activate devices, electronic semiconductor devices show temperature- dependent characteristics from thermal effect. So, it is required to measure temperature- dependent performances of devices to analyze and modeling them. The device parameter which make a mainly effect on the temperature characteristics of devices is emitter- base junction temperature or channel temperature. It is set by three parameters that are the thermal impedance, the ambient temperature, and the applied DC power. Though many researchers measure temperature characteristics of electronic semiconductor devices, they use different measurement system and measurement conditions. There were differences in measurement temperature, temperature rising time, temperature duration time, temperature falling time, etc. Therefore, it is difficult to select the right wanted product from measured data and to compare performances. This standard is issued to present the same on- wafer measurement conditions and to compare temperature characteristics between their performances of some papers, products, etc. |
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| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
![TTAK_[1].KO-10.0520.pdf](/images/file_icon.gif){kind=icon} TTAK_[1].KO-10.0520.pdf
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