Ç¥ÁØÈ­ Âü¿©¾È³»

TTAÀÇ Ç¥ÁØÇöȲ

Ȩ > Ç¥ÁØÈ­ °³¿ä > TTAÀÇ Ç¥ÁØÇöȲ

Ç¥ÁعøÈ£ TTAK.KO-10.0613 ±¸Ç¥ÁعøÈ£
Á¦°³Á¤ÀÏ 2012-12-21 ÃÑÆäÀÌÁö 15
ÇѱÛÇ¥Áظí Ĩ ¼öÁØ EMC ÃøÁ¤À» À§ÇÑ ½ºÄ³³Ê
¿µ¹®Ç¥Áظí Scanner for Measuring Chip Level EMC
Çѱ۳»¿ë¿ä¾à º» Ç¥ÁØÀº Ĩ ¼öÁØ EMC ÃøÁ¤À» À§ÇÑ ±ÙÁ¢Àå ½ºÄµ ¹æ½Ä¿¡¼­ »ç¿ëµÉ ½ºÄ³³ÊÀÇ »ç¾çÀ» ±ÔÁ¤ÇÏ°í ÀÖ´Ù.
¿µ¹®³»¿ë¿ä¾à The specification of scanner for the near field is defined.
±¹Á¦Ç¥ÁØ
°ü·ÃÆÄÀÏ TTAK.KO-10.0613.pdf TTAK.KO-10.0613.pdf            

ÀÌÀü
ARIA/SEED ¾ÏÈ£¾Ë°í¸®ÁòÀ» ÀÌ¿ëÇÑ Å° À¯µµÇÔ¼ö
´ÙÀ½
¸ð¹ÙÀÏ ±â±â ¹ÙÀÌ¿ÀÁ¤º¸ žÀç¹æ¹ý