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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0589 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2012-10-09 | 총페이지 | 16 |
| 한글표준명 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제2부: 환경적 특성 | ||
| 영문표준명 | Test Methods for the Stability of Oxide Semiconductor Thin Film Transistor - Part 2: Environmental Characteristics | ||
| 한글내용요약 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 사용 환경에 대한 신뢰성 평가에 필요한 항목에 대하여 정의하고 있으며 각 항목이 지닌 의미에 대하여 설명한다. 또한, 각 항목을 실제로 측정하는 도구 및 방법에 대하여 정의한다. | ||
| 영문내용요약 | This standard specifies the evaluation items for evaluation for the environmental stability of oxide semiconductor TFT and explains the meaning of each item. Also, this standard defines the actual apparatus and methods for the each item. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAK_KO-10_0589.pdf
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