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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0747 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2014-12-17 | 총페이지 | 20 |
| 한글표준명 | 다이오드의 역방향 회복 시간 및 전하량 측정방법 | ||
| 영문표준명 | Measurement Method for Reverse Recovery Time and Charge of Diode | ||
| 한글내용요약 | 본 표준의 주요 내용은 사용되는 용어를 정의하고 다이오드의 역방향 회복 시간 및 역방향 회복 전하량에 대한 측정 방법을 제시한다. 다이오드의 역방향 회복 시간과 역방향 회복 전하량은 스위칭 속도와 밀접한 관계가 있는 것으로 본 표준은 다이오드 중에서 Si(Silicon, 실리콘) 기반의 다이오드에 국한하지 않고 GaN(Gallium Nitride, 질화갈륨) 및 SiC(Silicon Carbide, 실리콘카바이드) 기반의 다이오드에 적용이 가능하다. | ||
| 영문내용요약 | This standard defines the using terms and the measuring methods of reverse recovery time and charges of diodes in order to compare performance with other diodes. It is applicable to the Si-based diodes, including GaN-based and SiC-based diodes. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
![TTAK.KO-10.0747_[1].pdf](/images/file_icon.gif){kind=icon} TTAK.KO-10.0747_[1].pdf
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