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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0524 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2011-12-21 | 총페이지 | 27 |
| 한글표준명 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 특성 측정 방법 | ||
| 영문표준명 | Test Methods for the Characterization of Oxide Semiconductor Thin Film Transistor | ||
| 한글내용요약 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 특성을 평가하기 위한 항목에 대하여 정의하고 있으
며 각 항목의 의미에 대하여 설명한다. 또한, 각 항목을 실제로 측정하는 도구 및 방법 에 대하여 정의한다. |
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| 영문내용요약 | This standard specifies the items for evaluation of oxide semiconductor TFT and
explains the meaning of each item. Also, this standard specifies the actual apparatus and methods for the each item. |
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| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.0524.pdf
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