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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0588 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2012-10-09 | 총페이지 | 19 |
| 한글표준명 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제1부: 광 전기적 특성 | ||
| 영문표준명 | Test Methods for the Stability of Oxide Semiconductor Thin Film Transistor - Part 1: Photo-Electrical Characteristics | ||
| 한글내용요약 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 광 전기적 신뢰성을 평가하기 위한 항목에 대하여 정의하고 있으며 각 항목이 지닌 의미에 대하여 설명한다. 또한, 각 항목을 실제로 측정하는 도구 및 방법에 대하여 정의한다. | ||
| 영문내용요약 | This standard defines the evaluation items for evaluation for the stability of oxide semiconductor TFT under photo-electrical stress and explains the meaning of each item. Also, this standard defines the actual apparatus and methods for the each item. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAK_KO-10_0588.pdf
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