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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0566 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2012-06-12 | 총페이지 | 16 |
| 한글표준명 | 칩 수준 EMC 측정을 위한 근장 프로브용 테스트 픽스처 구조 | ||
| 영문표준명 | Test Fixture Structure of Near Field Probe for Measuring Chip-Level EMC | ||
| 한글내용요약 | 주요 내용으로는 근장 스캐닝(Scanning) 프로브를 보정(Calibration)하기 위해 사용하는 원형 테스트 픽스처(Test Fixture)에 대한 사양을 규정하고 있다. | ||
| 영문내용요약 | The main content of this standard is to define the specifications of circular test fixture which is used for Near Field Scanning Probe calibration. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAK_KO-10_0566.pdf
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