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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0614 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2012-12-21 | 총페이지 | 15 |
| 한글표준명 | 칩 수준 EMC 측정을 위한 근장프로브 보정방법 | ||
| 영문표준명 | Calibration Method of Near Field Probe for Measuring Chip Level EMC | ||
| 한글내용요약 | 본 표준은 칩 수준 EMC 측정을 위한 근접장 프로브를 보정(calibration)하기 위해 사용되는 테스트 장치에 대하여 그 모양을 원형으로 사용하는 방법에 대한 것이다. | ||
| 영문내용요약 | The method of calibrating near field probe using test fixture is defined to the scope of circle. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.0614.pdf
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