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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0803 | 구표준번호 | |
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| 제개정일 | 2015-10-13 | 총페이지 | 21 |
| 한글표준명 | 반도체 소자의 1/f 잡음 평가 방법 | ||
| 영문표준명 | Evaluation Method of 1/f Noise of Semiconductor Devices | ||
| 한글내용요약 | 본 표준은 정보 통신용 반도체 회로나 IoT(Internet of Things) 등에 사용되는 다양한 반도체 소자(semiconductor device)나 센서의 1/f 잡음을 정확히 평가하기 위한 방법을 규정한다. 1/f 잡음은 반도체 소자 및 센서의 아날로그 성능에 영향을 미치는 매우 중요한 파라미터이므로 1/f 잡음을 정확히 평가하는 것이 필요하며, 본 표준에서는 이러한 1/f 잡음을 평가하는 방법에 대하여 규정한다. | ||
| 영문내용요약 | This standard specifies the measurement method for 1/f noise of various semiconductor devices and sensors that are used much to semiconductor circuits for telecommunications or IoTs(Internet of Things), etc. It is highly necessary to evaluate 1/f noise because 1/f noise is one of the key parameters, which influence in analog performance of semiconductor devices and sensors. This standard specifies the evaluation method for 1/f noise. | ||
| 국제표준 | |||
| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.0803.pdf
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