Ç¥ÁØÈ­ Âü¿©¾È³»

TTAÀÇ Ç¥ÁØÇöȲ

Ȩ > Ç¥ÁØÈ­ °³¿ä > TTAÀÇ Ç¥ÁØÇöȲ

Ç¥ÁعøÈ£ TTAK.KO-10.0613 ±¸Ç¥ÁعøÈ£
Á¦°³Á¤ÀÏ 2012-12-21 ÃÑÆäÀÌÁö 15
ÇѱÛÇ¥Áظí Ĩ ¼öÁØ EMC ÃøÁ¤À» À§ÇÑ ½ºÄ³³Ê
¿µ¹®Ç¥Áظí Scanner for Measuring Chip Level EMC
Çѱ۳»¿ë¿ä¾à º» Ç¥ÁØÀº Ĩ ¼öÁØ EMC ÃøÁ¤À» À§ÇÑ ±ÙÁ¢Àå ½ºÄµ ¹æ½Ä¿¡¼­ »ç¿ëµÉ ½ºÄ³³ÊÀÇ »ç¾çÀ» ±ÔÁ¤ÇÏ°í ÀÖ´Ù.
¿µ¹®³»¿ë¿ä¾à The specification of scanner for the near field is defined.
±¹Á¦Ç¥ÁØ
°ü·ÃÆÄÀÏ TTAK.KO-10.0613.pdf TTAK.KO-10.0613.pdf            

ÀÌÀü
ÈÞ´ë¿ë Àç³­ ±¸Á¶ Àåºñ¸¦ À§ÇÑ Áõ°­ÀÎÁö Ä¿³ØƼµå ½Ã½ºÅÛ – Á¦5ºÎ: Áõ°­ÀÎÁö ¼­ºñ½º °øÅë ºí·Ï ÀÎÅÍÆäÀ̽º
´ÙÀ½
°£È£°£º´ ÅëÇÕ ¼­ºñ½º ·Îº¿ ½Ã½ºÅÛ — Á¦1ºÎ : Á¤ÀÇ ¹× ½Ã½ºÅÛ ±¸¼º