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| 표준번호 | TTAK.OT-10.0306 | 구표준번호 | |
|---|---|---|---|
| 제개정일 | 2011-09-28 | 총페이지 | 78 |
| 한글표준명 | 혼성 신호 회로를 위한 테스트 로직 | ||
| 영문표준명 | Test Logic for Mixed-Signal Circuit | ||
| 한글내용요약 | 본 표준은 혼성 신호 회로의 테스트 로직 및 그 구성 요소를 테스트 로직 아키텍쳐,
TAP, TAP 제어기 상태, TAP 제어기 동작, ATAP, 레지스터 구조, 명령어 레지스터, 테스 트 데이터 레지스터, 바이패스 레지스터, 바운더리 스캔 레지스터, 명령어, 필수 명령어, 권장 명령어, 선택 명령어, TBIC, DBM, ABM의 17개 항목으로 나누어 규정한다. |
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| 영문내용요약 | This standard specifies the test logic and its elements of mixed- signal circuits
with 17 parts, i.e. test logic architecture, TAP, TAP controller states, TAP controller operations, ATAP, register architecture, instruction register, test data register, bypass register, boundary- scan register, instructions, mandatory instructions, recommended instructions, optional instructions, TBIC, DBM, and ABM. |
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| 국제표준 | IEEE Std 1149.1-2001과 IEEE Std 1149.4-1999 | ||
| 관련파일 |
 TTAK.OT-10.0306.zip
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