| 12174 |
2010-1307
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전기 장비에 대한 절연 시스템의 열적 평가를 위한 시험 절차의 준비에 대한 권장 절차(IEEE Std 99-2007)
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PG417 |
 표준공고
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2013-12-18 |
N |
| 12173 |
2010-1306
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고상 전기 절연체의 열적 내구성 평가 시험 절차(IEEE Std 98-2002)
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PG417 |
표준공고
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2013-12-18 |
N |
| 12172 |
2010-1305
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정전용량형 MEMS 마이크로폰의 패키지에 대한 열적 변형 특성 평가 방법
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12171 |
2010-1305
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정전용량형 MEMS 마이크로폰의 웨이퍼 상에서 열적 변형 특성 평가 방법
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12170 |
2010-1304
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공진형 무선전력전송 전자기장 측정방법
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12169 |
2010-1303
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플렉시블 TFT의 기계적 특성 측정 방법
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12168 |
2010-1302
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투명 능동OLED의 투명도 특성 측정 방법
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12167 |
2010-1301
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투명 능동OLED의 외광 신뢰성 측정 방법
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12166 |
2010-1300
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고출력 반도체 소자의 전력특성 상호비교를 위한 측정 지침
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12165 |
2010-1299
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초고주파 대역에서 유전막의 복소유전율 측정: Part 2
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12164 |
2010-1299
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초고주파 대역에서 유전막의 복소유전율 측정: Part 1
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12163 |
2010-1298
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투명 능동OLED의 전기광학적 특성 측정 방법
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12162 |
2010-1297
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투명 디스플레이 전기적 특성 측정 방법
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PG417 |
과제폐지
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2013-12-03 |
N |
| 12161 |
2010-1296
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개인 음향 공간 지수
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PG417 |
표준공고
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2010-12-23 |
N |
| 12160 |
2010-1295
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인체통신 네트워크 물리계층 구조
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PG415 |
표준공고
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2010-12-23 |
Y |
