Ä«Å×°í¸®º° ÇÏÀ§¸Þ´º·Î ¹Ù·Î°¡±â
º»¹®À¸·Î ¹Ù·Î°¡±â
Çϴܸ޴º·Î ¹Ù·Î°¡±â
»çÀÌÆ®¸ÊÀ¸·Î ¹Ù·Î°¡±â
Ä«Å×°í¸®º° ÇÏÀ§¸Þ´º
º»¹® ½ÃÀÛ
Ȩ
> Ç¥ÁØÈ Âü¿© >
Á¦¾È¼³»¿ë
Ç¥ ÁØ
Á¦¾È¹øÈ£
2020-P0076
Á¦¾ÈÇ¥Áظí
±¹¹® :µ¿À§¿ø¼ÒÀüÁö¿ë ¹ÝµµÃ¼ Èí¼öü Ư¼º ÃøÁ¤ ¹æ¹ý
¿µ¹® :Measuring Method of Characteristics of SiC Semiconductor for Isotope Battery
Á¦Á¤/°³Á¤/ÆóÁö ±¸ºÐ
Á¦Á¤
Á¦¾È´Üü ¶Ç´Â
°³ÀÎ ¸íĪ
Çѱ¹ÀüÀÚÅë½Å¿¬±¸¿ø
¿¬¶ô Ã¥ÀÓÀÚ
¹Ú¼º¸ð
½ÅûÀÏ
2020-03-31
÷ºÎÆÄÀÏ
TTAK.KO-¹æ»ç¼±µ¿À§¿ø¼ÒÈí¼öüÃøÁ¤¹æ¹ý-20200331.hwp
¼³¸í¼
¸ñ ·Ï