Ä«Å×°í¸®º° ÇÏÀ§¸Þ´º·Î ¹Ù·Î°¡±â
º»¹®À¸·Î ¹Ù·Î°¡±â
Çϴܸ޴º·Î ¹Ù·Î°¡±â
»çÀÌÆ®¸ÊÀ¸·Î ¹Ù·Î°¡±â
Ä«Å×°í¸®º° ÇÏÀ§¸Þ´º
º»¹® ½ÃÀÛ
Ȩ
> Ç¥ÁØÈ Âü¿© >
Á¦¾È¼³»¿ë
Ç¥ ÁØ
Á¦¾È¹øÈ£
2025-P1764
Á¦¾ÈÇ¥Áظí
±¹¹® :°ÔÀÌÆ® ¿Ã ¾î¶ó¿îµå Àü°èÈ¿°ú Æ®·£Áö½ºÅÍÀÇ Àü±âÀû Ư¼º ÃøÁ¤ ¹æ¹ý
¿µ¹® :Measurement Method for Electrical Characteristics of Gate-All-Around Field-Effect Transistors
Á¦Á¤/°³Á¤/ÆóÁö ±¸ºÐ
Á¦Á¤
Á¦¾È´Üü ¶Ç´Â
°³ÀÎ ¸íĪ
Çѱ¹ÀüÀÚÅë½Å¿¬±¸¿ø
¿¬¶ô Ã¥ÀÓÀÚ
¾È¼º´ö
½ÅûÀÏ
2025-07-11
÷ºÎÆÄÀÏ
GAA-FET.hwp
¼³¸í¼
¼öÁ¤¾ÏÈ£
¸ñ ·Ï