| 표준종류 |
정보통신단체표준(TTAS) |
| 표준번호 |
TTAK.KO-10.0588
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구 표준번호 |
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| 제개정일 |
2012-10-09 |
총 페이지 |
19 |
| 한글 표준명 |
산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제1부: 광 전기적 특성 |
| 영문 표준명 |
Test Methods for the Stability of Oxide Semiconductor Thin Film Transistor - Part 1: Photo-Electrical Characteristics |
| 한글 내용요약 |
산화물 반도체 박막 트랜지스터의 광 전기적 신뢰성을 평가하기 위한 항목에 대하여 정의하고 있으며 각 항목이 지닌 의미에 대하여 설명한다. 또한, 각 항목을 실제로 측정하는 도구 및 방법에 대하여 정의한다. |
| 영문 내용요약 |
This standard defines the evaluation items for evaluation for the stability of oxide semiconductor TFT under photo-electrical stress and explains the meaning of each item. Also, this standard defines the actual apparatus and methods for the each item.
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| 관련 IPR 확약서 |
접수된 IPR 확약서 없음
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| 관련파일 |
 TTAK_KO-10_0588.pdf
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| 표준이력 |
| 표준명 |
표준번호 |
제개정일 |
구분 |
유효
여부 |
IPR
확약서 |
파일 |
| 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 신뢰성에 대한 측정 방법 – 제1부: 광 전기적 특성 |
TTAK.KO-10.0588
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2012-10-09 |
제정
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유효
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없음
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| 표준유지보수이력 |
| 검토일자 |
검토결과 |
검토내용 |
| 2016-06-08 |
유지 |
- |
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