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자료 검색결과
| 표준종류 | 정보통신단체표준(TTAS) | ||||||||||||||||
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| 표준번호 | TTAK.KO-10.0524 | 구 표준번호 | |||||||||||||||
| 제개정일 | 2011-12-21 | 총 페이지 | 27 | ||||||||||||||
| 한글 표준명 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 특성 측정 방법 | ||||||||||||||||
| 영문 표준명 | Test Methods for the Characterization of Oxide Semiconductor Thin Film Transistor | ||||||||||||||||
| 한글 내용요약 | 산화물 반도체 박막 트랜지스터의 특성을 평가하기 위한 항목에 대하여 정의하고 있으
며 각 항목의 의미에 대하여 설명한다. 또한, 각 항목을 실제로 측정하는 도구 및 방법 에 대하여 정의한다. |
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| 영문 내용요약 |
This standard specifies the items for evaluation of oxide semiconductor TFT and
explains the meaning of each item. Also, this standard specifies the actual apparatus and methods for the each item. |
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| 관련 IPR 확약서 | 접수된 IPR 확약서 없음 | ||||||||||||||||
| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.0524.pdf
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| 표준이력 |
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| 표준유지보수이력 |
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