| 표준종류 |
정보통신단체표준(TTAS) |
| 표준번호 |
TTAS.OT-03.0011
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구 표준번호 |
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| 제개정일 |
2004-12-23 |
총 페이지 |
88 |
| 한글 표준명 |
발광 다이오드 칩/모듈의 특성 및 신뢰성 시험절차 |
| 영문 표준명 |
Characteristics & Reliability Test Procedure for Light Emitting Diode Chip/Module |
| 한글 내용요약 |
발광 다이오드는 빛을 발하는 반도체 소자로서 광통신 분야에 필요한 핵심 부품으로, 모듈 및 시스템에 요구되는 특성 뿐만 아니라 신뢰성이 보장되어야 한다. 이에 본 문서는 국제 표준서를 바탕으로 국내 발광 다이오드 칩/모듈의 특성 및 신뢰성 시험에 적합하도록 개발되었다. |
| 영문 내용요약 |
In optical communications a light emitting diode is a key component that emits the light. It needs a good performance and reliability for the module and system applications. This standard based on international standards covers the performance and reliability test for a light emitting diode.
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| 관련 IPR 확약서 |
접수된 IPR 확약서 없음
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| 관련파일 |
 TTAS.OT-03.0011.zip
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| 표준이력 |
| 표준명 |
표준번호 |
제개정일 |
구분 |
유효
여부 |
IPR
확약서 |
파일 |
| 발광 다이오드 칩/모듈의 특성 및 신뢰성 시험절차 |
TTAS.OT-03.0011
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2004-12-23 |
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유효
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없음
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