| 표준종류 |
정보통신단체표준(TTAS) |
| 표준번호 |
TTAK.KO-10.0803
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구 표준번호 |
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| 제개정일 |
2015-10-13 |
총 페이지 |
21 |
| 한글 표준명 |
반도체 소자의 1/f 잡음 평가 방법 |
| 영문 표준명 |
Evaluation Method of 1/f Noise of Semiconductor Devices |
| 한글 내용요약 |
본 표준은 정보 통신용 반도체 회로나 IoT(Internet of Things) 등에 사용되는 다양한 반도체 소자(semiconductor device)나 센서의 1/f 잡음을 정확히 평가하기 위한 방법을 규정한다. 1/f 잡음은 반도체 소자 및 센서의 아날로그 성능에 영향을 미치는 매우 중요한 파라미터이므로 1/f 잡음을 정확히 평가하는 것이 필요하며, 본 표준에서는 이러한 1/f 잡음을 평가하는 방법에 대하여 규정한다. |
| 영문 내용요약 |
This standard specifies the measurement method for 1/f noise of various semiconductor devices and sensors that are used much to semiconductor circuits for telecommunications or IoTs(Internet of Things), etc. It is highly necessary to evaluate 1/f noise because 1/f noise is one of the key parameters, which influence in analog performance of semiconductor devices and sensors. This standard specifies the evaluation method for 1/f noise.
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| 관련 IPR 확약서 |
접수된 IPR 확약서 없음
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| 관련파일 |
 TTAK.KO-10.0803.pdf
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| 표준이력 |
| 표준명 |
표준번호 |
제개정일 |
구분 |
유효
여부 |
IPR
확약서 |
파일 |
| 반도체 소자의 1/f 잡음 평가 방법 |
TTAK.KO-10.0803
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2015-10-13 |
제정
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유효
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없음
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| 표준유지보수이력 |
| 검토일자 |
검토결과 |
검토내용 |
| 2019-05-31 |
유지 |
추가 개정 및 변경 요구사항이 없으므로 유지함 |
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